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芯片網(wǎng)推出專業(yè) DECAP 半導(dǎo)體分析服務(wù),覆蓋 SoC 與功率器件開蓋解析
當(dāng)前先進制程 SoC、功率器件與高集成電源芯片持續(xù)迭代,也有很多人在關(guān)注芯片內(nèi)部的結(jié)構(gòu),就前不久小米爆火的玄戒O1來說,在發(fā)布不久后就有很多人關(guān)注這款芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu),從驗證自研真實性、梳理關(guān)鍵 IP 結(jié)構(gòu),到還原電源/功率路徑、定位可靠性風(fēng)險,越來越多的工程判斷需要落到芯片本體與封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)層面。基于此,芯片網(wǎng)正式上線 DECAP 半導(dǎo)體分析服務(wù),聚焦芯片市場與功率器件兩大市場,補齊從芯片封裝開蓋、芯粒顯微觀察到關(guān)鍵器件結(jié)構(gòu)解析的專業(yè)能力,為產(chǎn)業(yè)提供更具工程指向的樣品級分析與內(nèi)容化交付支持。在介紹業(yè)務(wù)之前,先來簡單了解一下什么是 DECAP?DECAP 常指對已封裝IC或半導(dǎo)體器件進行局部開蓋/去膠處理,完整暴露內(nèi)部的晶粒、邦定線和焊盤,在盡量不破壞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的前提下,為后續(xù)目檢、結(jié)構(gòu)識別、失
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超低頻耐壓試驗裝置(超低頻高壓發(fā)生器)產(chǎn)品解析
一、產(chǎn)品概述超低頻交流高壓試驗裝置(又稱超低頻高壓發(fā)生器、程控超低頻耐壓試驗裝置)是自主研發(fā)的核心產(chǎn)品,專為絕緣等值電容較大的電氣設(shè)備(如電力電纜、電容器、大中型發(fā)電機、電動機等)設(shè)計,替代傳統(tǒng)工頻耐壓試驗,解決大容量設(shè)備耐壓試驗的難題。技術(shù)背景:國際電工委員會(IEC)推薦0.1Hz超低頻耐壓技術(shù),適用于大容量設(shè)備絕緣性能檢測。符合中國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《DL/T849.4-2004 超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件》。二、核心優(yōu)勢精準(zhǔn)測量,數(shù)據(jù)真實可靠高壓側(cè)直接采樣:電流、電壓、波形數(shù)據(jù)均從高壓側(cè)直接獲取,避免低壓側(cè)采樣誤差,確保數(shù)據(jù)真實性。無容升效應(yīng):采用高低壓閉環(huán)負(fù)反饋控制電路,消除傳統(tǒng)設(shè)備因電容效應(yīng)導(dǎo)致的電壓偏差,輸出電壓與設(shè)定值完全一致。雙重安全保護,響應(yīng)極速過壓保護:輸出電壓超過設(shè)定限值
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用電負(fù)荷計算公式及計算方法,學(xué)電氣設(shè)計必看!
用電負(fù)荷是指電力系統(tǒng)中所接入的用電設(shè)備所消耗的功率,也就是電流和電壓在一定時間間隔內(nèi)所做的功。按照不同的分類方式,用電負(fù)荷可以分為不同的類型。在實際工程中,可以根據(jù) 具體的情況選擇合適的負(fù)荷計算方法。同時,為了更加準(zhǔn)確地預(yù)測和控制電能使用情況,還需要結(jié)合先進的用電監(jiān)測和管理技術(shù)。 通過實時監(jiān)測用電設(shè)備的電流、電壓、功率因數(shù)等參數(shù),可以更加準(zhǔn)確地掌握設(shè)備的實際運行情況,并采取相應(yīng)的節(jié)能措施。那么用電負(fù)荷怎么計算?計算公式又是什么呢?下面跟著小編一起來學(xué)習(xí)一下吧。01用電負(fù)荷定義用電負(fù)荷是指用電客戶的用電設(shè)備在某一時刻實際取用的功率總和。從電力系統(tǒng)來講,則是指為了滿足用戶用電所需具備的發(fā)電出力。用電負(fù)荷是一個不斷變動的量,對一個地區(qū)而言,負(fù)荷變化的特性主要取決于用電行業(yè)結(jié)構(gòu)、地域、季節(jié)變化、經(jīng)濟
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國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,芯瞳半導(dǎo)體技術(shù)(廈門)有限公司申請一項名為“多核芯片的操作方法、設(shè)計方法及多核芯片”的專利,公開號CN121351726A,申請日期為2025年12月。專利摘要顯示,本公開涉及半導(dǎo)體設(shè)計與制造的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種多核芯片的操作方法、設(shè)計方法及多核芯片。本公開的技術(shù)方案將可接受制造缺陷的電路邏輯分為第一邏輯分組,不可接受制造缺陷的電路邏輯分為第二邏輯分組;通過讀取多核芯片上至少一個計算核心的缺陷狀態(tài),可以確定出計算核心內(nèi)可接受制造缺陷的第一邏輯分組的可用性;在缺陷狀態(tài)指示第一邏輯分組不可用時,配置計算核心內(nèi)的控制寄存器關(guān)閉第一邏輯分組,同時保持計算核心內(nèi)不可接受制造缺陷的第二邏輯分組處于運行狀態(tài),不影響計算核心的功能電路邏輯。該技術(shù)方案使多核芯片可接受制造缺陷的電路
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我有個哥們兒猛到什么份兒上,三十八歲在深圳搞芯片設(shè)計,國內(nèi)這領(lǐng)域的尖子,硬生生憑實力逆襲每一次危機成就自己的傳奇
我有個哥們兒,猛到什么份兒上?三十八歲,還在深圳搞芯片設(shè)計。這事說起來挺玄的,因為這行業(yè)里,能堅持到現(xiàn)在的算是硬核了,尤其是國內(nèi)。那天周末正打算睡個懶覺,他突然接到個電話,說生產(chǎn)線出了大問題。你知道那種感覺嗎?就那種瞬間從夢中被拉出來焦慮的感覺。據(jù)說,他們新投產(chǎn)的那款自主設(shè)計的7納米芯片,批量測試時全體報錯,各種0x00A3之類的奇怪代碼,查了兩天也沒搞懂。因為我哥們在這個領(lǐng)域干了十幾年——雖然不算大佬,但也算半個技術(shù)控——他一聽,立馬從被窩里彈起來。大廠出的問題,咱也不能掉鏈子。剛想著換衣服,手機就震了,說是總監(jiān)又發(fā)來一堆文件。臟話不多說,他快速的想抓點時間趕飛機。反正那天早上不可能睡著了,純粹是應(yīng)急狀態(tài)。衣服反穿,鞋還沒穿好,趕忙就出門了。出租車上,他一邊滑動平板查文件,一邊腦袋飛快設(shè)想
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國產(chǎn)CPU企業(yè)兆芯集成正全力沖刺科創(chuàng)板上市,其總經(jīng)理兼總工程師王惟林在近期訪談中強調(diào),國產(chǎn)CPU要實現(xiàn)從“可用”到“好用”的跨越,是贏得用戶信任本土芯片的關(guān)鍵所在。他呼吁國內(nèi)同行抓住當(dāng)前有利時機,加速推進芯片國產(chǎn)化進程。面對外界對國產(chǎn)CPU可能受制于Intel X86指令集知識產(chǎn)權(quán)授權(quán)的擔(dān)憂,王惟林明確表示,兆芯已全面掌握CPU設(shè)計的核心技術(shù),包括全部源代碼,其知識產(chǎn)權(quán)體系完全自主可控。兆芯通過自主研發(fā),構(gòu)建了完善的ZX86指令集知識產(chǎn)權(quán)體系,為后續(xù)發(fā)展奠定了堅實基礎(chǔ)?;仡櫚l(fā)展歷程,兆芯與國內(nèi)眾多半導(dǎo)體企業(yè)一樣,選擇了“引進、消化、吸收、再創(chuàng)新”的發(fā)展路徑。通過與威盛的深度合作,兆芯不僅獲取了CPU的核心技術(shù)、源代碼和設(shè)計方法,更在此基礎(chǔ)上進行了大量的自主創(chuàng)新,特別是在指令集領(lǐng)域取得了突破性
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